» Home » Tag Tim » 17-0653.jpg

17-0653.jpg
17-0653.jpg

Dr.-Ing. Tim Baldauf im Labor Grundlagen der Messtechnik der Fakultät Elektrotechnik an der HTW Dresden am 25.04.17. Im Zuge der Skalierung herkömmlicher Feld-Effekt-Transistoren (FETs) stößt die Halbleiterindustrie zunehmend an physikalische Grenzen, die ein Umdenken erfordern. Rekonfigurierbare Transistoren (RFETs) bieten eine vielversprechende Alternative, da sie reprogrammierbare Logik ermöglichen, womit unabhängig von einer Skalierung die Funktionalität pro Chip gesteigert wird. So könnte dann z.B. ein NAND-Gatter einfach zu einem NOR-Gatter umprogrammiert werden. Meine Arbeit befasst sich im Wesentlichen mit der Optimierung der RFETs durch mechanische Verspannung bzw. mit ihrer Skalierbarkeit für zukünftige Technologieknoten. Dabei wird modernste Simulations-Software benutzt um das elektrische Verhalten dieser Bauelemente in Abhängigkeit verschiedener Parameter zu prognostizieren.

Artist Peter SEBB
Copyright Rechteinhaber: © HTW Dresden 2017 - Peter SEBB
Model NIKON D5
DateTimeOriginal 2017:04:25 09:44:57
FocalLengthIn35mmFilm 75
ApertureFNumber f/5.6
ExposureTime 1/40
ISOSpeedRatings 400
Flash 13
Created on Tuesday 25 April 2017
Dimensions 4311*2874
File 17-0653.jpg
Filesize 3846 KB
Visits 9467
Navigation
Options